Introduzione all'imaging iperspettrale di riflettanza

Il modulo fornisce le basi dell'imaging iperspettrale di riflettanza: vengono illustrati i principi della tecnica, gli strumenti, il processo di acquisizione dei dati e le applicazioni nel campo della diagnostica dei beni culturali. Inoltre verranno discusse le differenze tra l'approccio iperspettrale e l'uso di tecniche spettroscopiche puntuali e dell'imaging multispettrale e multi-banda. Vengono presentate le caratteristiche del "cubo iperspettrale", mostrando come sia possibile estrarre informazioni di vario tipo, sia spaziali sia spettrali, sulla superficie policroma esaminata.

Vedi BIO

Marcello Picollo

Laureato in Geologia presso l’Università degli Studi di Firenze, con PhD in Fotonica (titolo tesi: “Study of artworks by using non-invasive UV-VIS-IR spectroscopic and THz-TDS imaging techniques”) presso University of Eastern Finland (UEF), Joensuu (Finland), è dal 2001 ricercatore presso l’IFAC-CNR. Lavora dal 1991 allo studio di opere d’arte mediante tecniche spettroscopiche. In particolare, si occupa di analisi di materiali artistici, quali pigmenti e coloranti, mediante tecniche spettroscopiche puntuali e areali non invasive. Dal 2009 è responsabile del Gruppo di Ricerca SABeC Spettroscopia Applicata ai Beni Culturali.

Requisiti

Dotazione tecnica
  • Computer o tablet
  • Connessione internet a banda larga
  • Speaker o auricolari
  • Microfono e webcam